簡要描述:Mars系列高精度橋式三坐標(biāo)開敞性好,視野開闊,上下零件方便,運(yùn)動速度快,精度高。配備高精度的導(dǎo)軌、測頭和控制系統(tǒng),并結(jié)合計算機(jī)程序來自動控制檢測流程,從而計算輸出測量結(jié)果,支持測頭更換架以及影像相機(jī),同時支持精密轉(zhuǎn)臺等,能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測,也可以對軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測量。
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品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 否 |
Mars系列高精度橋式三坐標(biāo)廣泛應(yīng)用于機(jī)械制造業(yè),汽車工業(yè)等現(xiàn)代工業(yè)中。主要檢測形位公差,包括:幾何元素的測量:點、線、圓、面、球、弧、橢圓、圓柱、圓 錐、鍵 槽、曲線、曲面;幾何元素的構(gòu)造:投影、中分、相交、相切、鏡像、擬合、平移、垂直、平行、組合、旋轉(zhuǎn)、偏置線、偏置;形位公差軟件:直線度、平面度、圓度、圓柱度、 圓錐度、球度、距離、夾角、垂直度、平行度、傾斜度、位置度(2D及3D)、對稱度、同軸度、 同心度等。
任何形狀都是由空間點組成的,所有的幾何量測量都可以歸結(jié)為空間點的測量,因此用三坐標(biāo)進(jìn)行空間點坐標(biāo)的精確采集,是評定任何幾何形狀的基礎(chǔ)。通過將被測物體置于三坐標(biāo)測量機(jī)的測量空間,利用接觸或非接觸探測系統(tǒng)精確的測出被測零件表面的點在空間三個坐標(biāo)位置的數(shù)值,然后這些點的空間坐標(biāo)值,擬合形成測量元素,如圓、球、圓柱、圓錐、曲面等,由軟件進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算,求出待測的幾何尺寸和形狀、位置。
Mars系列高精度橋式三坐標(biāo)開敞性好,視野開闊,上下零件方便,運(yùn)動速度快,精度高。配備高精度的導(dǎo)軌、測頭和控制系統(tǒng),并結(jié)合計算機(jī)程序來自動控制檢測流程,從而計算輸出測量結(jié)果,支持測頭更換架以及影像相機(jī),同時支持精密轉(zhuǎn)臺等,能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測,也可以對軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測量。
型號 | 行程范圍(mm) | 外形尺寸(mm) | 主機(jī)重量 (kg) | 承重 (kg) | ||||
LX | LY | LZ | LA | LB | LC | |||
Mars Classic 575 | 500 | 700 | 500 | 1590 | 1355 | 2772 | 1800 | 500 |
精度指標(biāo):(根據(jù)ISO10360-2坐標(biāo)測量機(jī)的性能評定標(biāo)準(zhǔn)) | ||||||||
最大允許示值誤差MPEE (m) | 最大允許探測誤差MPEP (m) | |||||||
≥1.5+L/350 | ≥1.8 |
(1)三軸均采用低熱膨脹系數(shù)且低內(nèi)應(yīng)力的花崗巖導(dǎo)軌,機(jī)器具有良好的溫度適應(yīng)性,抗時效變形能力,確保高穩(wěn)定性測量。
(2)四面環(huán)抱式的氣浮導(dǎo)軌布局,使機(jī)器保持長時間的穩(wěn)定運(yùn)行,并且具有高的運(yùn)行精度。
(3)關(guān)鍵部件一體鑄造成型,結(jié)構(gòu)緊湊,重量輕,強(qiáng)度高,運(yùn)行更為快速平穩(wěn)、測量精度更高。
(4)低摩擦阻力的氣缸,Z軸在運(yùn)動過程中具有極低的摩擦阻力,提高Z軸運(yùn)動的精度。
(5)采用同進(jìn)口精密光柵尺,確保機(jī)器在使用過程中具有高的精度和長時間的穩(wěn)定性。
(6)高剛性傳動,保證了機(jī)器傳動的剛性和平穩(wěn)性,提高了機(jī)器的運(yùn)動精度。
(7)精密花崗巖工作臺,兼具高穩(wěn)定性和高耐受性,機(jī)器承載能力更強(qiáng);開放式工作臺設(shè)計,裝卸空間更為寬闊、便捷。
(8)氣壓檢測安全裝置,保證Z軸不會因為斷氣而下墜,保證了測頭測座的安全。
Mars三坐標(biāo)測量機(jī)支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測系統(tǒng),可對零部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測,對于軟材質(zhì)或復(fù)雜零部件可選擇光學(xué)掃描測量。同時可支持不同類型的測針與加長桿、測頭更換架、影像測量、精密轉(zhuǎn)臺等附件的選配。
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